Vanta Element-S håndholdt XRF

Identificer grundstoffer og legeringer med et håndholdt XRF-instrument fra Olympus. Vanta Element, har fået en storebror, Vanta Element-S, med Silicon Drift Detector (SDD), der gør den i stand til at måle lette grundstoffer. Indenfor X-ray flourescence (XRF) er lette grundstoffer: Magnesium (Mg), Aluminium (Al), Silicium (Si), Fosfor (P) og Svovl (S).

Vanta Element-S er en prisvenlig løsning til virksomheder, der har behov for at analysere metaller med lette grundstoffer, men f.eks. ikke har behov for kamera til billeder af emner og sigte kamera.

Den håndholdte XRF-model er velegnet til applikationer som:

  • Skrothandel – analyse og sortering af skrot
  • PMI analyse (Positiv Materiale Identifikation) – kvalitets -og sikkerhedskontrol
  • Analyse af ædelmetaller – bestem karat og identificer ædelmetaller, som f.eks. guld
  • Produktion – analyse af fremstillet metal

Ved interesse og et ønske om mere information, kontakt os her eller brug formularen nederst på siden. Mulighed for demonstration.

Beskrivelse

Vanta Element-S er sammen med Vanta Element den nye Olympus serie af XRF-apparater til en overkommelig pris. Og den nye Vanta Element-S egner sig bl.a. godt til hurtig PMI analyse og skrot sortering.

XRF-instrumentet kan med hastighed, præcision og repeterbarhed bestemme grundstofsammensætninger og dermed bridrage til at optimere processer samt mindske ressourcer. En materialeanalyse kan have en varighed på helt ned til et sekund, hvor resultatet vises på instrumentets smartphone lignende skærm.

Vanta Element-S modellen har et 50 kV sølv anode røntgenrør og en SDD detektor. Den måler følgende grundstoffer:

Mg, Al, Si, P, S, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Ni, Cu, Zn, Au, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Sr, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb.

Selve brugergrænsefladen er brugervenligt designet og derfor nem at navigere i. Materialeanalyse instrumentet kræver begrænset træning, hvilket betyder den hurtigt kan tages i brug.

Med denne analysator er det som de andre Olympus’ modeller nemt at eksportere test data til rapport i PDF eller CSV-format, der kan benyttes til dokumentation.

Hvilket XRF-instrument skal jeg vælge?

Tilbehør

Som tilbehør til Vanta Element-S fås en forseglet og rosbust kuffert til transport, 1 Li-Ion batteri, USB med PC software, 3 ekstra vinduer til beskyttelse af detektoren og strømforsyning.

Fordele

Billig XRF model med lette grundstoffer. Modellen er robust, nøjagtig og giver hurtige resultater

Vanta Element-S vindue består materialet Prolene mixet med kapton, hvilket gør vinduet mere holdbart og sværre at bryde.

Begrænsninger

Fås ikke med collimator (kan bringe testområdet ned til 3mm) eller kamera

Garanti

Et års garanti

Robusthed

Instrumentet er bygget med robusthed i tankerne.

  • IP54 klassificeret for beskyttelse mod støv og fugt
  • Drop testet efter militær standarder (MIL-STD-810G) for at reducere høje reparationspriser
  • Kan fungere i temperature fra -10 °C til 45 °C
  • Fronten på instrumentet er af rustfritstål, der beskytter mod slid
  • Let af udskifte vinduer

Versus Vanta Element

Vanta Element  Vanta Element-S 
Benyttelse Prisvenlig XRF til identifikation af legeringer Prisvenlig XRF til bestemmelse af lette grundstoffer
Bedst til Hurtig, simpel analyse Analyser magnesium (Mg), aluminium (Al), silicium (Si), fosfor (P) og svovl (S)
Detektor PIN Silicon drift detector (SDD)
Vindue Tykt kapton vindue Prolene vindue med net af kapton som support
Spændingskilde 2-watt røntgenrør med 35 kV Wolfram (W) anode 4-watt røntgenrør med 50kV sølv (Ag) anode

X-Ray Flourescence FAQ

Oftes stillede spørgsmål omkring ndt teknikken til materialeanalyse: XRF FAQ